01.16 高線性度CMOS模擬乘法器設計與仿真

模擬乘法器是模擬信號處理系統的重要組成部分,在自動增益控制、鎖相環、調製、解調、相位檢查、頻率變換、信號平方開方、神經網絡和模糊積分系統等方面有著廣泛應用

[1-3]。實現模擬乘法運算有多種方法,一般有霍爾效應法、磁阻乘法器、脈衝高/寬調製、1/4平方差法、三角波平均法、對數與反對數法、可變跨導法、開關電容法、電流模法和CMOS電流平方法等[4-6]。全部採用MOS器件構成的模擬乘法電路易於和其他電路實現單片集成,增加芯片集成度;隨著芯片集成度的提高,信號之間的串擾增加,導致芯片失效,對芯片進行抗噪設計非常重要;線性度反映器件的抗干擾能力和容納噪聲能力,在信號完整性領域具有重要意義[7]

隨著CMOS特徵工藝不斷縮小,為保證MOS管工作在飽和區,必須限制信號的線性輸入範圍,傳統的CMOS Gilbert乘法單元電路難以實現較寬的輸入範圍,抗噪聲能力十分有限[8-9],為解決CMOS Gilbert乘法單元的這些缺陷,就必須加入信號衰減電路對其進行優化[10-11]。本文基於TSMC 0.18 μm工藝設計了一種CMOS模擬乘法器,通過優化電路和器件結構,在HSPICE環境下對CMOS模擬乘法器的直流、交流、倍頻、噪聲及溫度等特性進行仿真和優化,分析了各項關鍵性能參數並與參考文獻進行了比較。

1 模擬乘法器電路結構設計

本文采用有源衰減器來提高CMOS模擬乘法器的信號處理能力,對輸入信號進行衰減,並使用源跟隨器對信號的電位進行平移,通過對信號的預處理來提高乘法器的性能。電路主要由有源衰減器、CMOS Gilbert乘法單元和偏置電路三部分組成。有源衰減器對輸入信號進行衰減及電位平移,CMOS Gilbert乘法單元對預處理後的信號進行乘法運算,偏置電路為電流源提供偏置電壓。

1.1 CMOS Gilbert乘法單元

CMOS Gilbert乘法單元的電路拓撲結構如圖1所示。其中M7、M11和M12為NMOS電流源,Vb為電流源M7的偏置電壓,M1~M6構成MOS型Gilbert六管乘法單元[4]。Vx1、Vx2、Vy1和Vy2為輸入信號端,Vo1和Vo2為輸出信號端。設K=0.5μ

nCOX,W/L=1,K1=K2=K3=K4=K5=K6=K。經推導得到:

其中,I1~I4、I11和I12分別為M1、M2、M3、M4、M11和M12的源漏電流,ISS為M5和M6的源漏電流,UX=Vx1-Vx2,UY=Vy1-Vy2

從式(2)所給的近似條件中可以看出,在很小的情況下,CMOS Gilbert乘法單元實現了乘法運算。為滿足這一近似條件,在CMOS Gilbert乘法單元的兩個輸入端X和Y各加入一對有源衰減器。

高线性度CMOS模拟乘法器设计与仿真

1.2 有源衰減器

X信號的有源衰減器電路拓撲結構如圖2所示。電路為對稱結構,分別處理兩個輸入端的X信號。以左半邊電路為例,P管M13工作在線性區,P管M17工作在飽和區,構成有源衰減器[7]。N管M25工作在飽和區,作為源跟隨器。M21為電流源,與M25構成電位平移電路。Vx3和Vx4為輸入信號端,Vx1和Vx3為輸出信號端。記M25的柵電壓為V1,設VTH13=VTH17=VTH,V1與輸入電壓的關係為:

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可見,適當調節M13和M17的溝道寬度和溝道長度即可獲得合適的衰減係數。Y信號有源衰減器的原理與X信號有源衰減器的原理相同。

1.3 偏置電路

偏置電路拓撲結構如圖3所示,由三個漏柵短接的NMOS串聯組成,通過調節M8~M10的寬長比來確定偏置電壓,其中Vb為輸出電壓端。

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1.4 整體電路及參數

CMOS模擬乘法器整體電路結構及參數如圖4和表1所示。該電路主要由CMOS Gilbert乘法單元電路、有源衰減器電路、偏置電路等幾個模塊構成。

高线性度CMOS模拟乘法器设计与仿真高线性度CMOS模拟乘法器设计与仿真

在圖4中,從左到右依次為偏置電路、X信號有源衰減器、CMOS Gilbert乘法單元和Y信號有源衰減器。基於TSMC 0.18 μm工藝,通過優化,模擬乘法器整體電路中各MOS管寬長比如表1所示。

2 模擬乘法器電路仿真結果

基於TSMC 0.18 μm工藝,採用工藝庫中的3.3 V器件,經仿真各優化後的MOS管耐壓情況符合工藝要求。在HSPICE環境下對乘法器的直流傳輸特性、交流特性、倍頻特性以及溫度特性進行仿真。

2.1 直流傳輸特性

當Vx4=0 V,Vy3=0 V時,使Vx3分別從0.6 V至-0.6 V以步長0.2 V進行直流傳輸特性掃描,當從-0.6 V至0.6 V以步長0.2 V增加,得到X端直流傳輸特性如圖5所示,其中Vout=Vo1=Vo2

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取電壓範圍最大的兩條直線用最小二乘法擬合得到直線方程:y1=-0.041 49x1+0.000 15,最大非線性誤差為3.84%;y2=0.002 5x2+0.000 01,最大非線性誤差為3.81%。

輸入範圍為±0.9 V時,X端直流傳輸特性如圖6所示。可線性擬合為:y1=-0.005 87x1+0.000 44,最大非線性誤差為5.52%;y2=0.005 7x2+0.000 05,最大非線性誤差為5.72%。

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2.2 交流傳輸特性

當Vx4=-0.6 V,Vy3=-0.6 V,Vy4=0.6 V時,在Vx3輸入直流偏壓為0.6 V、幅值為0.2 V的交流信號,頻率從0.5 GHz到100 kHz以每10 Hz為單位衰減,得到X端交流傳輸特性如圖7所示,可得出乘法器-3 dB帶寬為181 MHz。

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2.3 倍頻特性

在Vx3端輸入頻率為500 kHz的正弦信號,在Vx4輸入與Vx3頻率幅度相同、相位相反的正弦信號,令Vx=Vx3-Vx4。同理,在Vy3端輸入頻率為500 kHz的正弦信號,在Vy4輸入與Vy3頻率幅度相同、相位相反的正弦信號,令Vy=Vy3-Vy4。可得到輸出的仿真結果如圖8所示,可以看出輸出信號的頻率是輸入信號的兩倍,即模擬乘法器實現了原輸入信號的倍頻。

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在Vx端輸入頻率為20 kHz、幅值為0.2 V的正弦信號,在Vy端輸入頻率為500 kHz、幅值為0.2 V的正弦信號。得到該模擬乘法器的雙邊帶調幅仿真結果如圖9所示。

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2.4 溫度特性

不同溫度下的輸出響應如圖10和圖11所示。從圖10可見,隨著溫度的升高,輸出幅度會減小。在圖11中,以27 ℃曲線中0 dB為參考點,當溫度為-46 ℃時,輸入信號為134 MHz時的輸出誤差為3.04 dB;當溫度為100 ℃時,輸入信號為134 MHz時的輸出誤差為-3.19 dB。

高线性度CMOS模拟乘法器设计与仿真高线性度CMOS模拟乘法器设计与仿真

2.5 噪聲分析

模擬乘法器的噪聲仿真曲線如圖12所示。可以看出,在頻率為100 kHz時,等效輸入噪聲為287 nV/,等效輸出噪聲為9.83 nV/。

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2.6 模擬乘法器版圖的優化設計

基於TSMC 0.18 μm工藝,使用Cadence Virtuoso軟件對該模擬乘法器的版圖進行了優化設計,版圖面積為(215×268)?滋m2,如圖13所示。與文獻[7]中所設計的版圖相比,本文差分對管採用了共質心技術,並對大尺寸晶體管進行了拆分處理,有效提高了版圖性能,本文采用Si基CMOS工藝有利於與芯片其他Si基集成電路模塊的系統集成,提高整個芯片的集成度。

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3 模擬乘法器線性度分析與比較

3.1 模擬乘法器線性度與輸出幅度的關係

在輸入信號幅度固定為±0.6 V時,通過優化有源衰減器MOS管的寬長比來控制乘法器的輸出幅度,研究其線性度和輸出幅度的關係,如表2所示。由於乘法器性能取決於MOS晶體管的I-V特性,隨著輸出幅度減小,乘法器最大非線性誤差也隨之減小,但若輸出幅度太小,信號便難於檢測。乘法器輸出幅度與線性度應折中考慮,根據實際應用需求優化器件參數。

3.2 與參考文獻的線性度等參數的比較

在參考文獻中,線性度用非線性誤差這一指標來衡量,是反映乘法器性能的主要指標之一,本文乘法器與參考文獻中的乘法器比較如表3所示。

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通過綜合比較模擬乘法器主要參數,如電源電壓、輸入電壓範圍、非線性誤差、-3 dB帶寬和特徵工藝等,可見,和文獻相比,本文采用的特徵工藝和電源電壓均符合當前集成電路發展趨勢,本文乘法器在輸入範圍更寬的情況下(±0.6 V),非線性誤差減小到3.84%,這表明本文乘法器的線性度明顯優於現有文獻。

4 結論

本文采用CMOS器件,通過優化電路結構和器件參數,設計了一種高線性度CMOS模擬乘法器。採用有源衰減器對輸入信號進行預處理,將預處理之後的信號送至CMOS Gilbert乘法單元進行運算。與參考文獻中的幾款典型乘法器對比表明,本文通過優化設計電路結構和器件參數的集成電路設計方法[12],得到的乘法器具有輸入範圍更寬、非線性誤差更小等優點,線性度明顯提高,因此,本文模擬乘法器的抗噪聲能力更強,將在信號完整性等領域有著重要應用。

參考文獻

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作者信息:

丁 坤1,田睿智1,汪 濤1,2,王 鵬1,易茂祥1,張慶哲1

(1.合肥工業大學 電子科學與應用物理學院 國家示範性微電子學院,安徽 合肥230009;

2.中國科學技術大學 信息科學技術學院,安徽 合肥230027)


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