傳統的 TX 測試主要解決了發送端鏈路的從芯片封裝管腳，到整個傳輸鏈路包括PCB走線和連接器。而在系統接收端的接收路徑則也可能會受到電源紋波和噪聲與時鐘的干擾乃至鏈路損耗等 SI 因素的影響。因此發送端測試能夠通過 CTS（Compliance Test Specification）並不能代表系統的接收端是完全符合標準和規範的。因此業界各種標準和組織包括如 PCI-Sig，USB-IF，HDMI 聯盟等也都定義了接收端必須遵從的規範和測試方法。
由此誤碼儀（Bit Error Tester）在高速串行電路設計和測試中越來越得到廣泛採用。
為什麼需要？
誤碼儀到底是什麼？
在其中扮演了什麼角色呢？
如何採用誤碼儀
進行高速串行數據接收端測試呢？
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“在高速串行數據接收端測試中新一代的內置集成CDR方案相對上一代的外置CDR有何優點？
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