坊间一直流传着：假如你的SSD长时间不通电，你的固态硬盘会损坏的传说。
这些谣言都是真的吗？
在多年前有人对不通电SSD在不同温度下数据完整性保存时间进行了一项测试，然后这张测试图表就开始广为流传。
从这张图表上看：断电后的固态硬盘在环境温度30℃，且有效温度为40℃的情况下，SSD数据完整有效的存储时间为52周，也就是大约一年的时间。所以，谣言就开始了....
不过，您别着急下结论我们下面先来科普一下SSD的存储原理
首先，构成固态硬盘主要存储介质是一块一块的NAND闪存芯片。
而闪存芯片的基本存储单元是浮栅晶体管，其中浮栅极被二氧化硅包裹，和上下绝缘，当浮栅极中的电子数量高于某个中间值时就表示 0 ，低于中间值就表示 1 。
晶体管每次写入数据前都要先擦除，即在P极上加一个电压，浮栅中原有的电子会因为量子隧穿效应通过绝缘层被吸出来，让浮栅中的电子数量低于中间值，还原成 1 ；存储0的浮栅，相比存储1的浮栅，有更多的电子。
因此，在读取数据时，我们可以往控制极加一个中间值电压，如果两个 N 极导通，就能反推出浮栅中的电子较少，识别为1；如果没有导通，就说明浮栅中的电子较多，识别为0。
然而，每次主控写入数据前都需要先擦除原闪存数据，二氧化硅绝缘层往往会自然困住一部分的电子，这就是大家经常说的磨损。这些电子的累积会逐渐抵消控制极上的电压，使得控制极为了导通两个 N 极所需的也会电压越来越大。
当这个偏移超过中间值，那么读取时也就无法分辨0和1。我们对于擦写次数的描述一般以TBW总写入量来进行计算，即出厂时设计总写入数据量。
当TBW总写入量达到厂商设定值，就代表这款固态硬盘的出厂设计寿命已终结，后续使用中可能会有数据丢失风险。ok，基本知识灌输结束
开始辟谣第一，此项谣言所依据的这个测试，所采用的SSD均为TBW总写入量达标产品，即每款产品都是在达到极限擦写次数后进行测试。测试主要是模拟固态硬盘达到设计使用寿命后，在长期不通电情况下数据保持完整性的时间。
第二，从开始的SSD存储原理上我们了解到，固态硬盘是以浮栅内电子数量形成的电压来区分数据‘0’和‘1’的。由于测试的产品总擦写次数已经达出厂最大值，所以预留用于区分数据的电压差趋于饱和。
第三，随着环境温度的升高，不通电情况下固态硬盘中的电子会开始从浮栅晶体管中逃离，最终会导致浮栅晶体管的电压状态改变，导致数据不可读。而在正常通电情况下，擦写操作过程中电流量更高，可以保证浮栅晶体管的电压稳定性。
第四，JEDEC标准组织也对TBW已用尽的固态硬盘产品进行了行业标准规定，要求消费级产品关机断电后在30℃情况下至少要保存1年的时间，企业级产品关机断电后在40℃情况下至少保存3个月时间。
第五，即使出现极端情况导致某个不可预估错误出现，我们的强大主控也会基于LDPC低密度奇偶校验功能进行纠正。
第六，现在闪存都采用的是3D NAND闪存，其保存电荷的能力对比以前平面的2D NAND闪存提高了很多倍。
总结：谣言中所述的固态硬盘不通电会损坏情况的，是基于产品达到最大设计使用寿命之后，把固态硬盘断电放置在高温环境下才会出现的。正常在保修期内和未达到TBW使用量的产品完全不需要有这种过度的担心。况且这么高的环境温度基本在日常生活中是不会出现的，即使出现也更应该优先考虑用户自身的安全了。
谣言止于智者
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