概述
Cortex™-M3內核含硬件調試模塊，支持複雜的調試操作。硬件調試模塊允許內核在取指(指令斷點)或訪問數據(數據斷點)時停止。內核停止時，內核的內部狀態和系統的外部狀態都是可以查詢的。完成查詢後，內核和外設可以被複原，程序將繼續執行。
當STM32F10x微控制器連接到調試器並開始調試時，調試器將使用內核的硬件調試模塊進行調試操作。
支持兩種調試接口：
● 串行接口
● JTAG調試接口
圖 1調試框圖
SWJ調試端口(serial wire and JTAG)
STM32F10xxx內核集成了串行/JTAG調試接口(SWJ-DP)。這是標準的ARM CoreSight調試接口，包括JTAG-DP接口(5個引腳)和SW-DP接口(2個引腳)。
● JTAG調試接口(JTAG-DP)為AHP-AP模塊提供5針標準JTAG接口。
● 串行調試接口(SW-DP)為AHP-AP模塊提供2針(時鐘＋數據)接口。
在SWJ-DP接口中，SW-DP接口的2個引腳和JTAG接口的5個引腳中的一些是複用的。
圖 2SWJ調試端口
JTAG調試接口是默認的調試接口。
如果調試器想要切換到SW-DP，必須在TMS/TCK上輸出一指定的JTAG序列(分別映射到SWDIO和SWCLK)，該序列禁止JTAG-DP，並激活SW-DP。該方法可以只通過SWCLK和SWDIO兩個引腳來激活SW-DP接口。
指定的序列是：
1. 輸出超過50個TCK週期的TMS(SWDIO)＝ 1信號
2. 輸出16個TMS(SWDIO)信號 0111100111100111 (MSB)
3. 輸出超過50個TCK週期的TMS(SWDIO)＝ 1信號
圖 3SWJ調試端口引腳
利用串行接口並釋放不用的調試腳作為普通I/O口
為了利用串行調試接口來釋放一些普通I/O口，用戶軟件必須在復位後設置SWJ_CFG=010，從而釋放PA15，PB3和PB4用做普通I/O口。
在調試時，調試器進行以下操作：
● 在系統復位時，所有SWJ引腳被分配為專用引腳(JTAG-DP + SW-DP)。
● 在系統復位狀態下，調試器發送指定JTAG序列，從JTAG-DP切換到SW-DP。
● 仍然在系統復位狀態下，調試器在復位地址處設置斷點
● 釋放復位信號，內核停止在復位地址處。
● 從這裡開始，所有的調試通信將使用SW-DP接口，其他JTAG引腳可以由用戶代碼改配為普通I/O口
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