ASML談EUV光刻機未來的發展

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來源:內容由半導體行業觀察(ID:icbank)翻譯自「semiwiki」,謝謝。

在2018年末,三星和臺積電推出了具有5至7個EUV層的7nm晶圓代工邏輯工藝,兩家公司在整個2019年也都加快了這些工藝的生產,現在正在大量生產中。進入今年,三星和臺積電都在加快具有12至14個EUV層的5nm晶圓代工邏輯工藝的進度,而英特爾正在研究明年有望基於EUV的7nm工藝。英特爾的7納米制程密度應與三星和臺積電的5納米制程相當。

三星還於2019年末推出了其1z DRAM工藝,該工藝最初是光學的,但隨後過渡到單個EUV層。2020年3月下旬,三星宣佈已出貨100萬個基於EUV的DRAM模塊。三星的下一代DRAM工藝,即所謂的1c代DRAM有望具有4個EUV層。

顯然,EUV已被公認為是領先邏輯和DRAM生產關鍵層的最佳解決方案。

而在今年的SPIE高級光刻會議,ASML的Mike Lercel展示了公司EUV的四個方面:

1、當前的生產是使用0.33NA系統完成的,ASML給出了這些系統的當前狀態和路線圖。

2、EUV源是系統的關鍵組成部分,並描述了新的改進源的詳細信息。

3、生產0.5NA系統以提高分辨率和生產率的工作狀況。

4、ASML收購了HMI,並將繼續開發其多光束– Ebeam晶圓檢測技術。

0.33NA系統

關於這方面,ASML的總結如下圖所示:

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截至2019年底,ASML已交付了53套系統,並且在該領域已曝光超過1000萬片晶圓。圖2展示了按季度分列的發貨系統和曝光的晶圓。

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圖2

圖2的一個特別令人印象深刻的方面是背景照片,該照片顯示了在未公開客戶現場安裝的成排的EUV系統。

該領域的當前系統是NXE:3400B,該系統現在已經證明一週平均每天> 1,900 wpd,最好的一天超過2,700 wpd。

圖3說明,平均可用性現在已達到85%,而系統的前10%則為90%。90%一直是3400B系統的目標,ASML繼續努力將3400B系統的可用性提高到90%左右。

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圖3

ASML現在已經開始交付下一代系統NXE:3400C。

NXE:3400C具有改進的光學性能和機械吞吐量,與3500B相比,新機器在在20mJ/cm²下可獲得每小時160片晶圓(wph)的效率,在30mJ/cm2下則能獲得135 wph的效率,那就意味著吞吐量提高了約20%。

在3400B,設備的指定為20mJ/cm²用於生產量,而30mJ/cm²則是因為需要隨著特徵尺寸的縮小而增加。作者注意到,我相信即使對於7nm晶圓代工邏輯,目前的數字仍高於30mJ/cm²。

3600C對系統進行了幾處改進,以提高可用性。據相關數字透露,他們的目標是將其可用性提高到95%,這將與DUV系統所達到的可用性相同。這些改進將在源代碼的論文中進一步討論。

ASML預計在2021年中期以30mJ/cm²交付具有160 wph吞吐量的NXE:3600D,並且更長期地計劃推出以30mJ/cm²達到220wph的系統。吞吐量不斷提高的關鍵是更高的光源功率(請參見EUV光源部分)和更快的機械處理。

在不斷提高dose準確性,覆蓋(overlay),CD均勻性(uniformity )和聚焦均勻性(uniformity )的同時,實現了這些吞吐率的提高。

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EUV光源

3400B系統上最大的可用性損失原因是液滴產生器和收集器反射鏡,見圖5。

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圖5

3400C系統通過自動重新裝錫發生器,快速更換墨滴噴嘴(droplet nozzle)和方便檢修門以快速更換收集器鏡(mirror swaps)來解決這些問題。

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聚光鏡的壽命也在不斷提高,而功率也在增加。

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這些改進的最終結果是在現場將3400C系統的正常運行時間目標定為95%。

為了實現吞吐量的不斷提高,ASML將繼續提高電源功率。圖8說明了電源功率的趨勢。請注意,從研究到大批量生產的時間大約為2年,因此我們可能會在2022年左右看到500瓦的電源(目前的電源大約為250瓦)。

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0.5NA系統

曝光系統的分辨率與NA成反比。隨著關鍵尺寸的縮小,0.33NA EUV系統將需要multi-patterning才能印刷出最小的特徵。高NA系統的目標是使0.33NA系統的覆蓋率和生產率匹配,同時使單程光刻技術擴展到更小的特徵。

0.5NA系統的光學系統是變形(anamorphic)的,即在一個方向上的放大倍數為4x,在正交方向上的放大倍數為8y。這導致場大小是具有相同標線片大小的4x/4y系統的場大小的1/2。為了實現高生產率目標,掩模臺的加速度是0.33NA系統的4倍,晶圓臺的加速度是0.33NA系統的2倍。

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快速階段中傳輸的改進導致在相同吞吐量下,0.55NA系統比0.33NA系統的吞吐量有所提高。這裡應該注意,為0.55NA系統開發的一些高速sateg技術正在0.33NA系統上實現,以進一步提高這些系統的吞吐量。

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目前,ASML正在實現晶圓和掩模臺加速並最終確定架構。這與0.33NA系統的主要區別在於新的光學系統和更快的stage,儘管更快的stage技術再次用於0.33NA系統。

0.55NA系統還需要更好的對準和水平度。ASML當前正在測試特定配置,以確定高加速度下的顆粒生成,並開始收集一些第一批傳感器數據。

ASML還在世界各地的各種設施中構建0.55NA系統的基礎架構。

1、康涅狄格州的ASML Wilton負責標線階段。

2、系統將在荷蘭Veldhoven的ASML總部組裝。

3、德國Oberkochen的Ziess負責光學制造。

4、光源是加利福尼亞聖地亞哥的ASML負責。

目前公司有4個系統在訂購中,預計將在2022/2023年的時間範圍內可用。

多光束EBeam

ASML收購了HMI,並繼續追求HMI多光束EBeam曝光技術。電子束檢查具有很高的分辨率,但檢查0.1%的芯片大約需要2個小時,非常緩慢。

多光束方法利用3x3陣列中的9個光束同時掃描。圖11說明了基本工具概念。

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現在,ASML已證明光束之間的串擾小於2%,並且他們正在利用DUV曝光工具中的stage技術來提高多光束系統的通量。他們的目標是將吞吐量提高5-6倍,並且長期使用25光束系統。

毫無疑問,EUV現在是用於領先工藝的關鍵光刻的首選解決方案。ASML繼續展示當前的0.33NA生成系統和下一代0.55NA系統的開發進展。

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*免責聲明:本文由作者原創。文章內容系作者個人觀點,半導體行業觀察轉載僅為了傳達一種不同的觀點,不代表半導體行業觀察對該觀點贊同或支持,如果有任何異議,歡迎聯繫半導體行業觀察。

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