转自： TonyTONG 着迷品质
同一台测试设备测量类似特性如何证明其能力?
问
同一台测试设备测量类似特性如何证明其能力？
答
对于用同一台测试设备测量的类似特性，如果都按照前面介绍的标准方法来证明测量过程的能力，有时并没有必要，取而代之的可以在每次研究后，确定使能力指数满足要求的最小许可公差。
1
什么是测量系统能力满足要求的最小公差？
对于用同一台测试设备测量不同的被测特性，原则上是属于不同的测量系统，需要分别针对于每一个特性进行测量系统分析。在实际执行过程中，如果每一个特性都分别按标准方法拿实际被测对像来进行研究，有时会导致较大工作量。
一个替代的方法是，针对于特定方法，基于公司标准要求评价的项目和能力指数的要求，以及特定特性上研究的结果，推断出能力指数满足要求的最小公差。
例如，针对于某特性(17+/-0.25mm)，用百分表(分辨率为0.01mm)来进行测量的测量系统，公司标准中对于方法一研究的评价项目有三项，具体要求为分辨率占公差百分比小于5%,Cg,Cgk大于等于1.33.针对于当前特性的测量系统分析结果为：
RE%=2%
Cg=2.5
Cgk=2.47
则可以推导出，
分辨率占公差百分比等于5%时，公差可以为0.2mm
Cg满足1.33时，公差可以为0.266mm
Cgk满足1.33时，公差可以为0.272mm
故此三项都满足要求时，最小的公差为0.272mm
同样的，在方法二和方法三中，也可以推导能力指数满足要求和有条件满足要求时的最小公差。
2
总结
在这篇短文中，我们介绍了能力满足要求的最小许可公差的含义，在实际工作中，特别是针对于在柔性生产线上开发的新项目，初步评估现有的测量系统是否有能力用于新项目控制计划中涉及特性的测量时，具有参考意义。当然，通过适当的转换，也可以换算出相对于新特性的测量系统能力指数，并做为报告的一部份提交给客户
这种换算的方式因为不是直接拿实际的被测特性来进行试验研究的结果，因而存在一定风险。Q-Drive推荐，针对于非特殊特性的测量系统，测量情形相似时可以用这种方法来代替，而针对于特殊特性，尽可能拿实际被研究的对象来进行分析。文章仅代表Q-Drive的观点。
版权声明：本头条号（IATF16949）所推送文章中，部分来源于网络。除非确实无法确认，我们都会注明作者和来源。部分文章推送时未能与原作者取得联系。若涉及版权问题，烦请原作者联系我们，我们会在24小时内删除处理，谢谢！内容若有误，欢迎批评指正
閱讀更多 IATF16949 的文章
