01衰减---Attenuation 單位 –dB
高频电子讯号在传动时由于基本材料电阻，产生讯号强度(电压)降低以外，尚有因高频引发的Impedance，导致电子讯号强度再被降低,基本电阻的衰减取决于导体材质可称直流衰减,电容电感的衰减取决于频率高低可称交流衰减，且频率越高此衰减越严重；如果ATT数值越趋近于0时，表示讯号损耗的情况越少。反之，ATT数值越负(越小)时，表示讯号损耗的情况越严重.
常见的衰减参数的测试图，Pass表示符合测试要求，NG表示测试数据异常
衰减/插入损失（α，Attenuation/Insertion Loss）
指输出端功率（Pout）比入射端功率（Pint）降低了多少，以dB（分贝）来表示，也可以是指输出电压（Vout）与入射电压（Vin）相比讯号损耗剩下多少，一般是用NA（网路分析仪）来量测，可由仪器直接量得，其公式如下：
单位长度传输线的总衰减是中心导体的损失（αc）和介电材质损失（αd）之和。
αc＝11.39*f1/2/Z0*(d+D) dB/m（f:GHz d,D:cm）
或 αc＝4.34*f1/2/Z0*(d+D)dB/100ft（ f:MHz d,D:inch）
αD＝90.96*f*Σr1/2*tan(δ) dB/m
或 αD＝2.78*f*Σr1/2*tan(δ) dB/100ft δ为散逸系数
如果ATT数值越趋近于0时，表示讯号损耗的情况越少。反之，ATT数值越负（越小）时，表示讯号损耗的情况越严重。
衰减常数（参照电线电缆手册一的数据说明）
表示电磁波在均匀电缆上每公裡的衰减值，它由两部分组成，
由于金属导体中的损耗而产生的衰减；
由于介质中损耗产生的衰减。
αn={[RLGL-ω2LLCL+(RL+ω2LL2)(GL2+ωL 2C2)1/2]/2} 1/2
在低损耗近似中，上式可近似为：
αn=(RL/Z0+GL*Z0)/2
从两个电压比值奈培数到同一比值的dB数之间存在一个简单的转换关係，如果两个电压的比值奈培数为rn，同样电压比值的dB数为rdB，由于它们等于相同的电压比，所以可以得到：
10rdB/20=ern
rdB=rn*20loge=8.68*rn
所以传输线单位长度的衰减dB/长度为：
αdB=8.68αn=4.34(RL/Z0+GL*Z0)
注：αn表示衰减，为奈培/长度
αdB表示衰减，为dB/长度
RL表示导线单位长度串联电阻
CL表示单位长度电容
LL表示单位长度串联回路电感
GL表示由介质引起的单位长度并联电导
理论上，这虽是频域中的衰减，但衰减却与频率没有内在联系，然而事实上，在现实世界中，对于非常好的传输，由于趋肤效应的影响，单位长度串联电阻随著频率的平方根增加；由于介质损耗因数的影响，单位长度并联电导随著频率而增加，这意味著衰减也会随著频率的升高而增加，高频率正弦波的衰减要大于低频率的衰减。
单位元长度损耗由两部分组成，一部分是由导线损耗引起的衰减：αcond=4.34(RL/Z0),另一部分衰减与介质材料损耗有关：αdiel=4.34(GL*Z0)，总衰减为：αdB=αcond＋αdiel
随著频率的升高，介质引起衰减的增加速度要比导线引起衰减的增加速度快，那么会存在某一频率，使得在这一频率之上时介质引起的衰减处于主导地位.
传输线上的信号损耗：
综合以上信号损耗主要包括以下几种：
阻性损耗、介质损耗：信号以电磁波的形式在传输线中传输，在介质中产生极化。介质中的带电粒子沿着电场方向规则排列，电荷的规则移动消耗了能量。
相邻耦合损耗：串扰的影响，信号的能量一部分耦合到响铃的线上去，从而衰减了自身的能量。
反射损耗和辐射损耗等：反射的信号在传输线上来回传输，最终对信号的总能量构成损耗；高频信号以电磁波的形式辐射出PCB
在分析传输线损耗时，还应注意：趋肤效应； 邻近效应 ；表面粗糙度；复介电常数 ；介质损耗 ；随频率变化的阻抗特性和时延特性等，特别自身的损耗是高频损耗的主要部分：主要是由导线自身的电阻所引起的损耗，在交流信号下，导线的阻抗会随着频率的变化而变化；走线的表面都会有一定的粗糙度，当信号的波长与走线层表明的粗糙度相近时会加剧阻性损耗，而且由于趋肤效应的影响，高频电流会集中在导体的表面，这会进一步加剧导体的阻抗损耗，下面我们将分析这些损耗如何体现在传输线上面.
线缆的低衰减可归于下列因素：
a.很大的中心导体直径(d)或绝缘介电材质的直径。
介电材质能防止高频能量经由电阻成份散逸而保存的能力.
介电材质散逸系数越低, 代表其传递高频能量之能力越高。
b.中心导体直径或覆被低阻值。
c.低介电係数。
d.低的集肤效应深度。
举一个生活中的例子，如图为热水传输管道
问题1：供热水公司输出热水假设100°C，但实际接收单位肯定会有差异，在这个热水传输过程中有发生明显损耗.
问题2：一杯热水100°C，放置一个小时以后，可能就变成常温的水，在这个放置过程中，水温发生明显损耗.
影响到热水传输损耗的原因分析：
1.传输管道的壁厚（会影响保温的时间）
2.传输管道的内壁光洁度（会阻碍传输的速度）
3.传输管道的材质（会影响保温的时间）
4.传输水的速度 （速度直接影响水温损耗的速度）
5.传输的距离（距离直接影响水温损耗的速度）
6.外部环境的影响（会影响保温的时间）
如图对比管道图，铜丝即为传输的核心水，绝缘皮即是保护的传输管道
影响到线缆传输损耗的原因分析：
- 传输管道的壁厚（对比为芯线的皮厚）
- 传输管道的内壁光洁度（对比为线材附著力不稳定及芯线外观不良粗糙）
- 传输管道的材质（ 芯线的绝缘材质）
- 传输水的速度（导体的大小）
- 传输的距离（测试线材的长短）
- 外部环境的影响（测试的环境及线材的屏蔽效果(遮蔽率)）
线缆设计中关键点﹕
阻抗，绝缘外径，导体外径，屏蔽状况
阻抗大；衰减小﹔
绝缘线径大；阻抗大；衰减小﹔
导体直径大；衰减小﹔
发泡度大；介电常数小；衰减小﹔
编织密度增加；衰减小﹔
编织+铝箔结构；衰减小﹔
铝箔厚度增加；衰减小﹔
线缆生产过程中控制关键点﹕
芯线的皮厚偏小；衰减增大
附著力不稳定及芯线外观不良粗糙；衰减增大
芯线的绝缘材质；介电常数小，衰减小
导体偏小；衰减大
测试线材的长短；线长衰减大测试的环境及线材的屏蔽效果(遮蔽率)；环境差；衰减大.
不同线种的应用设计理论重点也不同，以下做简要数据罗列说明
电线主要分为两种，一种为同轴系列，一种为对绞系列
同轴线主要影响衰减的因素﹕阻抗﹑绝缘线径﹑导体直径﹑编织锭子数﹑每锭根数。
目前需要用到同轴线的主要成品系列罗列
1) 阻抗增大；衰减减小﹔
2) 绝缘线径增大；阻抗增大；衰减减小﹔
3) 导体直径增大；衰减减小﹔
4) 发泡度增加；介电常数减小；衰减减小﹔
5) 外导体变化（编织）的影响
a) 编织密度增加；衰减减小﹔
b) 编织+铝箔结构；衰减减小﹔
c) 铝箔厚度增加；衰减减小﹔
双绞线主要影响衰减的因素﹕导体﹑绝缘介质﹑绝缘线径﹑对绞节距﹑对屏蔽松紧﹑对屏蔽厚度﹑成缆节距﹑总屏蔽﹑总屏蔽厚度﹑对内延时差。
目前双绞线的种类非常多，网线最为普遍，其它如HDMI，USB,DP等都为此类别
1) 导体
导体线径大；衰减小﹔
导体绞合节距增大；衰减减小
导体绞合质量差(起股﹑松散﹑不圆整等)；高频衰减跳动。
2) 绝缘介质﹕发泡度增大；介电常数减小；衰减减小﹔
3) 绝缘线径﹕绝缘线径增大；阻抗增大；衰减减小﹔
4) 对绞节距﹕对绞节距增大；衰减减小﹔
5) 对屏蔽松紧
铝箔绕包过紧；衰减增大﹔
铝箔绕包紧；高频衰减无跳动﹔
铝箔绕包过紧；高频衰减跳动﹔
铝箔绕包松；高频衰减有跳动。
铝箔绕包不平整；高频衰减跳动.
衰减参数小结：以上所写部分主要为理论知识，在实际制程中很少会根据这些公式来计算，在实际制中影响衰减的主要因素是阻抗，所以控制阻抗稳定是非常重要一个环节，这就要求在做导体时注意OD稳定、外观美观、无刮伤、凸起等会影响到阻抗的不良因素，对于芯线要求OD稳定、同心度高、表面光滑美观，绞线时要求绞距稳定、收/放线张力平衡，对于外被要求押出时不能过紧过松。所以只有做好线的每一个工段，才能保证阻抗变化不大，才能保证衰减较好；在衰减计算参数的应用里面一般有两个系数比较重要，如下附表
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