筆者是一名擁有多年從事嵌入式開發，程序員工作經歷的科技工作者，在設計開發過程中，難免遇到一些問題
比如 使用STM32單片機進行程序開發，樣品小量測試時,功能測試都正常。但在大批量生產時，就會出現概率性的出現內部系統參數丟失的情況。
因為產線控制不良率要在千分之1，所以導致生產停拉，產品需要返工，事情很嚴重。
參數存儲
後來經過不斷分析，與STM32的FAE進行聯合調試,然後從樣機測試，小批量測試，到大批量，確認驗收，解決了這個問題
因這個問題看不見摸不著，所以需要從以下幾個方面進行處理
1 存儲代碼不合理，需要有單獨的備份區，代碼存儲需要同時存兩個獨立扇區的備份區數據，並且能有有效驗真的校驗機制。能分辨當某一扇區丟失時，有效的切換到另一個扇區
2 一定要檢查全局變量和局部變量，不能有溢出現象，因為溢出後就有可能無意識修改參數
3 存儲的讀寫操作過程中要電壓穩定，前後操作要有一定的延時等待。
4 儘量減少整個系統的中斷響應
5 單片機供電電壓要穩定,不穩定的電壓容易造成數據丟失
因為每個項目代碼不一樣，這裡就不寫具體的代碼，只需要從上面幾個點去考慮，就能解決數據丟失問題。
善於總結經驗，能學習別人的經驗，才是一個優秀的程序，優秀的工程師進步的法寶!
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