為什麼不直接用不良率，而用Cp Cpk來衡量過程能力？
前情提要
前面我們說明了100%全檢不能取代SPC;強調過程控制要“built to nominal”，那麼我們該如何評價測量值與目標的偏離帶來的影響呢？
問
為什麼不直接用不良率，而用Cp Cpk來衡量過程能力？
答
Cp Cpk是基於田口品質損失函數的原理提出來的
1什麼是田口品質損失函數?
日本的質量管理專家田口玄一認為，質量應該用產品在整個生命週期中給整個社會所帶來的損失來衡量。
例如，對於目標特性而言，當偏離目標時，可能導致後續無法安裝，影響客戶滿意度，導致最終產品的早期失效等，這些問題所造成的總的成本，即因為質量問題帶來的整個社會的損失，而當特性值落在目標上，整個損失是最小的，偏離目標值越遠，則帶給整個社會的損失越大（如下圖所示）。
田口玄一為了解釋"整個社會的損失"的概念，舉了一個例子,日本農夫在冷天用乙烯樹脂塑布保護農作物，以避酷寒。日本的工業標準訂有該種塑料布的界限。有一家制造商將波動縮小，並將分配的中心點定規定下限那一端，結果製造出的產品雖然非常均勻，但卻只是勉強正好落在公差界限之內，製造商以此法降低成本。
• 結果造成三種損失
-塑料布因經不起風吹而破損。
-農民因農作物受傷而遭受損失。
-由於產品供給減少，導致價格上漲
田口玄一認為製造商的這種做法“比小偷還壞”，因為整個社會承受的成本比製造成本還高 。
2什麼是變差，如何評價過程的變差?每一次測量得到的特徵值與目標之間的差異，通常稱為偏差，當測量值非常多時，對一系列的偏差的描述,稱為變差，變差是一個集合術語。這是統計過程控制中最重要的4個概念之一，減少變差是質量管理活動中重要的主題。
從事統計工作的人員，開發一些工具，用來描述測量值的分佈規律，通常要減少變差，涉及到減少特徵值的波動，同時要讓特徵值分佈的中心儘可能靠近目標。
基於田口的品質損失函數，用簡單的超過公差才算是不合格，落在公差範圍內為合格，用公差為導向的生產和用不合格率去描述過程能力是不合適的。
如何去強調我們需要儘可能的將產品特徵生產到目標值呢？強調所生產產品的波動小，並且生產的產品靠近目標值呢?
基於田口的品質損失函數，提出了經典的設備，過程能力/性能的指數。 Xp用來衡量實際製造過程的波動是否足夠小，而Xpk會考慮過程波動並同時看是否與目標對齊。
小夥伴們，以後我們對於需要進行能力研究的特性，應該以目標為導向評價和控制過程，相信你也一定已經明白了經典的能力指數背後的原理了吧。
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